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【信息科学与工程学】计算机科学与自动化——第十篇 芯片设计14 芯片运维与可靠性模型

发布时间:2026/10/16 2:16:21 来源:尧图企业网站定制
芯片运维与可靠性模型1. 加速寿命试验模型1.1 温度加速模型一级分类二级分类三级分类四级分类五级分类模型名称数学表达式参数说明加速寿命试验模型温度加速模型阿伦尼乌斯模型单应力阿伦尼乌斯基本阿伦尼乌斯阿伦尼乌斯方程AF=exp[kEa​​(T0​1​−T1​1​)]Ea​:激活能(eV), k:玻尔兹曼常数, T0​:参考温度(K), T1​:加速温度(K)加速寿命试验模型温度加速模型阿伦尼乌斯模型单应力阿伦尼乌斯寿命-温度关系阿伦尼乌斯

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