汽车电子DFT与功能安全(ISO 26262)测试副标题：ASIL等级、安全机制测试与故障注入随着汽车电子从"分布式 ECU"演进到"域控制器 + 中央计算 + 区域控制器（zonal）“的集中式架构，一颗 SoC 同时承载动力、底盘、车身、座舱甚至 L2/L3 自动驾驶功能，功能安全（Functional Safety）已经从"可选项"变成"准入门槛”。ISO 26262《Road vehicles — Functional safety》作为道路车辆功能安全的事实标准，对芯片提出了量化要求：ASIL 等级划分、安全目标 SG、安全机制 SM、硬件度量 SPFM/RFM/PMHF、单点故障与残余故障的可探测性，最终落到一份可追溯的 FMEDA 表格。对于 IC 测试工程师与汽车电子工程师而言，这意味着 DFT（Design for Test）的边界被显著拉宽：扫描测试不再只服务于制造缺陷筛选，还要与安全机制测试、故障注入（Fault Injection, FI）协同，证明"在芯片内部任意一点发生随机硬件故障时，安全机制能在故障容错时间间隔 FHTI 内把系统迁移到安全状态"。本文系统讲解汽车电子 DFT 与 ISO 26262 功能安全测试的工程实践：从 ASIL 等级与安全目标推导，到安全机制与硬件度量，再到故障注入原理、DFT 与功能安全的协同、主流 EDA 工具（Tessent Auto、TestMAX、Cadence Modus、JasperGold/VC Formal、Saber 等）的实战流程与 Tcl 命令，最后覆盖 ISO 26262 V 模型可追溯性与常见调试问题，帮助读者构建从需求到签核的完整能